SURFACE TOPOGRAPHY-METROLOGY AND PROPERTIES

ISSN:

2051672X, 2051672X

English

Idioma

Editora:

IOP Publishing Ltd.

Local:

United Kingdom

Acesso Aberto (Open Access)

Directory of Open Access Journals (DOAJ)

Acesso Aberto:

Não disponível

Selo DOAJ:

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Licença da dos Artigos:

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Mais Informações:

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Fonte de dados:

https://doaj.org/docs/public-data-dump/

Elsevier-Scopus

(Agência Avaliadora)

Indexada da base de dados - SCOPUS

Indexada:

Sim

Status:

Ativo

Cobertura

2013-2022

Scientific Journal Rankings - SJR (SCIMAGO e SCOPUS)

Melhor Quartil:

Ranking:

11994/27955

SJR:

0,422

CiteScore 2022:

H-Index:

3.3

Citação/ Doc. (2anos):

2,62

Fonte de dados:

https://www.elsevier.com/?a=91122

https://www.scimagojr.com/journalrank.php

Clarivate

(Agência Avaliadora)

Indexada da base de dados - Web of Sciente (WoS)

Indexada:

Sim

Categoria:

Engineering, Mechanical | Instruments & Instrumentation | Materials Science, Multidisciplinary

Coleção:

Science Citation Index Expanded (SCIE)

Fonte de dados:

https://mjl.clarivate.com/collection-list-downloads

Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

(Agência Avaliadora)

QUALIS

Avaliada:

Não

Áreas:

Fonte de dados:

https://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/veiculoPublicacaoQualis/listaConsultaGeralPeriodicos.jsf