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Proceedings of the Asian Test Symposium

ISSN:

10817735, 10817735

Não disponível

Idioma
Editora:

IEEE Computer Society

Local:

United States

Acesso Aberto (Open Access)

Acesso Aberto:

Não disponível

Selo DOAJ:

Não disponível

Licença da dos Artigos:

Não disponível

Taxa para publicação (APC):

Não disponível

Mais Informações:

Não disponível

Fonte de dados:

Elsevier-Scopus 

Indexada:

Não Disponível

Status:

Não Disponível

Cobertura

Não Disponível

Melhor Quartil:

-

Ranking:

14580/27955

SJR:

0,318

CiteScore 2022:

H-Index:

Não Disponível

34

Citação/ Doc. (2anos):

0,7

Fonte de dados:

Clarivate

Indexada:

Não

Categoria:

Não disponível

Coleção:

Não disponível

Fonte de dados:

Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

Avaliada:

Sim

Áreas:

B3

ENGENHARIAS II

-

-

Fonte de dados:

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