Journal of X-Ray Science and Technology

ISSN:

08953996, 10959114

English

Idioma

Editora:

IOS Press BV

Local:

Netherlands

Acesso Aberto (Open Access)

Directory of Open Access Journals (DOAJ)

Acesso Aberto:

Não disponível

Selo DOAJ:

Não disponível

Licença da dos Artigos:

Não disponível

Taxa para publicação (APC):

Não disponível

Mais Informações:

Não disponível

Fonte de dados:

https://doaj.org/docs/public-data-dump/

Elsevier-Scopus

(Agência Avaliadora)

Indexada da base de dados - SCOPUS

Indexada:

Sim

Status:

Ativo

Cobertura

2000-2022, 1989-1998

Scientific Journal Rankings - SJR (SCIMAGO e SCOPUS)

Melhor Quartil:

Ranking:

10645/27955

SJR:

0,483

CiteScore 2022:

H-Index:

4.0

Citação/ Doc. (2anos):

3,03

Fonte de dados:

https://www.elsevier.com/?a=91122

https://www.scimagojr.com/journalrank.php

Clarivate

(Agência Avaliadora)

Indexada da base de dados - Web of Sciente (WoS)

Indexada:

Sim

Categoria:

Instruments & Instrumentation | Optics | Physics, Applied

Coleção:

Science Citation Index Expanded (SCIE)

Fonte de dados:

https://mjl.clarivate.com/collection-list-downloads

Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

(Agência Avaliadora)

QUALIS

Avaliada:

Não

Áreas:

Fonte de dados:

https://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/veiculoPublicacaoQualis/listaConsultaGeralPeriodicos.jsf