JOURNAL OF MICRO-NANOPATTERNING MATERIALS AND METROLOGY-JM3
ISSN:
19325150, 27088340
English
Idioma
Editora:
SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
Local:
Não disponível
Acesso Aberto (Open Access)
Acesso Aberto:
Não disponível
Selo DOAJ:
Não disponível
Licença da dos Artigos:
Não disponível
Taxa para publicação (APC):
Não disponível
Mais Informações:
Não disponível
Fonte de dados:
Elsevier-Scopus
Indexada:
Não Disponível
Status:
Não Disponível
Cobertura
Não Disponível
Melhor Quartil:
Não disponível
Ranking:
Não disponível/27955
SJR:
Não disponível
CiteScore 2022:
H-Index:
Não Disponível
Não disponível
Citação/ Doc. (2anos):
Não disponível
Fonte de dados:
Clarivate
Indexada:
Sim
Categoria:
Engineering, Electrical & Electronic | Nanoscience & Nanotechnology | Materials Science, Multidisciplinary | Optics
Coleção:
Science Citation Index Expanded (SCIE)
Fonte de dados:
Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)
Avaliada:
Sim
Áreas:
A2
ADMINISTRAÇÃO PÚBLICA E DE EMPRESAS, CIÊNCIAS CONTÁBEIS E TURISMO
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Fonte de dados: